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AEC-Q100认证试验第三方检测机构

简要描述:

广电计量AEC-Q100认证试验第三方检测机构失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

浏览量:606

更新日期:2023-05-29

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AEC-Q100认证试验第三方检测机构
品牌广电计量加工定制
服务区域全国服务周期常规3-5天
服务类型元器件筛选及失效分析服务资质CMA/CNAS认可
证书报告中英文电子/纸质报告增值服务可加急检测
是否可定制是否有发票

AEC-Q100认证试验第三方检测机构服务背景

IC作为重要的车载元器件部件,是AEC委员会持续关注的重点领域。AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q100的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。

广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。


AEC-Q100认证试验第三方检测机构产品范围

集成电路(IC)


测试周期

3-4个月,提供全面的认证计划、测试等服务


测试项目

序号

测试项目

缩写

样品数/批

批数

测试方法

A组 加速环境应力试验

A1

Preconditioning

PC

77

3

J-STD-020、

JESD22-A113

A2

Temperature-Humidity-Bias

THB

77

3

JESD22-A101

Biased HAST

HAST

JESD22-A110

A3

Autoclave

AC

77

3

JESD22-A102

Unbiased HAST

UHST

JESD22-A118

Temperature-Humidity (without Bias)

TH

JESD22-A101

A4

Temperature Cycling

TC

77

3

JESD22-A104、Appendix 3

A5

Power Temperature Cycling

PTC

45

1

JESD22-A105

A6

High Temperature Storage Life

HSTL

45

1

JESD22-A103

B组 加速寿命模拟试验

B1

High Temperature Operating Life

HTOL

77

3

JESD22-A108

B2

Early Life Failure Rate

ELFR

800

3

AEC-Q100-008

B3

NVM Endurance, Data Retention, and Operational Life

EDR

77

3

AEC-Q100-005

C组 封装完整性测试

C1

Wire Bond Shear

WBS

最少5个器件中的30根键合线

AEC-Q100-001、AEC-Q003

C2

Wire Bond Pull

WBP

MIL-STD883 method 2011、

AEC-Q003

C3

Solderability

SD

15

1

JESD22-B102或 J-STD-002D

C4

Physical Dimensions

PD

10

3

JESD22-B100、 JESD22-B108

AEC-Q003

C5

Solder Ball Shear

SBS

至少10个器件的5个键合球

3

AEC-Q100-010、

AEC-Q003

C6

Lead Integrity

LI

至少5个器件的10根引线

1

JESD22-B105

D组 晶圆制造可靠性测试

D1

Electromigration

EM

/

/

/

D2

Time Dependent Dielectric Breakdown

TDDB

/

/

/

D3

Hot Carrier Injection

HCI

/

/

/

D4

Negative Bias Temperature Instability

NBTI

/

/

/

D5

Stress Migration

SM

/

/

/

E组 电学验证测试

E1

Pre- and Post-Stress Function/Parameter

TEST

所有要求做电学测试的应力试验的全部样品

供应商或用户规格

E2

Electrostatic Discharge Human Body Model

HBM

参考测试规范

1

AEC-Q100-002

E3

Electrostatic Discharge Charged Device Model

CDM

参考测试规范

1

AEC-Q100-011

E4

Latch-Up

LU

6

1

AEC-Q100-004

E5

Electrical Distributions

ED

30

3

AEC Q100-009

AEC Q003

E6

Fault Grading

FG

-

-

AEC-Q100-007

E7

Characterization

CHAR

-

-

AEC-Q003

E9

Electromagnetic Compatibility

EMC

1

1

SAE J1752/3-辐射

E10

Short Circuit Characterization

SC

10

3

AEC-Q100-012

E11

Soft Error Rate

SER

3

1

JEDEC

无加速:JESD89-1

加速:JESD89-2或JESD89-3

E12

Lead (Pb) Free

LF

参考测试规范

参考测试规范

AEC-Q005

F组 缺陷筛选测试

F1

Process Average Testing

PAT

/

/

AEC-Q001

F2

Statistical Bin/Yield Analysis

SBA

/

/

AEC-Q002

G组 密封封装完整性测试

G1

Mechanical Shock

MS

15

1

JESD22-B104

G2

Variable Frequency Vibration

VFV

15

1

JESD22-B103

G3

Constant Acceleration

CA

15

1

MIL-STD883 Method 2001

G4

Gross/Fine Leak

GFL

15

1

MIL-STD883 Method 1014

G5

Package Drop

DROP

5

1

/

G6

Lid Torque

LT

5

1

MIL-STD883 Method 2024

G7

Die Shear

DS

5

1

MIL-STD883 Method 2019

G8

Internal Water Vapor

IWV

5

1

MIL-STD883 Method 1018


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