广电计量可满足各等级电子元器件筛选方案加急检测,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备可靠性提升。
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更新日期:2024-09-04
在线留言品牌 | 广电计量 | 加工定制 | 是 |
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服务区域 | 全国 | 服务周期 | 常规3-5天 |
服务类型 | 元器件筛选及失效分析 | 服务资质 | CMA/CNAS认可 |
证书报告 | 中英文电子/纸质报告 | 增值服务 | 可加急检测 |
是否可定制 | 是 | 是否有发票 | 是 |
电子元器件筛选方案加急检测服务范围
半导体集成电路:时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、 门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压⽐较器、 电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、 控制器等;
半导体分立器件:二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;
电阻器;电容器;磁珠;电感器;变压器;晶体振荡器;晶体谐振器;继电器;电连接器;开关及⾯板元件;滤波器;电源模块等。
检测标准
●GJB7243-2011电子元器件筛选技术要求
●GJB128A-1997半导体分立器件试验方法
●GJB360A-1996电子及电气元件试验方法
●GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
●QJ10003—2008进口元器件筛选指南
●MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法
●MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序
电子元器件筛选方案加急检测检测项目
●外观检查;
●电性能测试:常温测试/高温测试/低温测试;
●环境/机械应力检测:振动、低温贮存、高温贮存、温度循环、温度冲击、恒定加速度或跌落、密封(粗检漏、细检漏 )、粒子碰撞噪声检测(PIND);
●高温动态老炼、高温反偏老炼、功率老炼、恒流老炼、间歇寿命老炼;
●芯片超声检测;
●X射线照相。
相关资质
CNAS
服务背景
电子元器件是装备的关键原材料,元器件筛选是提升电子装备可靠性的关键手段,严格执行型号的三级筛选管理规定,从源头上保证装备的可靠性和质量一致性是电子装备批产的关键。
我们的优势
广电计量可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备可靠性提升。