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5G大规模集成电路芯片失效分析CNAS认证

简要描述:

广电计量拥有专家团队及先进的失效分析设备,对大规模集成电路可提供无损分析、电特性/电性定位分析、破坏性分析、微观显微分析等失效分析测试、5G大规模集成电路芯片失效分析CNAS认证。

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更新日期:2023-05-30

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5G大规模集成电路芯片失效分析CNAS认证
品牌广电计量服务区域全国
服务周期常规3-5天服务类型元器件筛选及失效分析
服务资质CMA/CNAS认可证书报告中英文电子/纸质报告
增值服务可加急检测是否可定制
是否有发票

5G大规模集成电路芯片失效分析CNAS认证服务范围

大规模集成电路芯片


检测项目

(1)无损分析:X-Ray、SAT、OM 外观检查。

(2)电特性/电性定位分析:IV 曲线量测、Photon Emission、OBIRCH、ATE 测试与三温(常温/低温/⾼温)验证。

(3)破坏性分析:塑料开封、去层、板级切片、芯片级切片、推拉力测试。

(4)微观显微分析:DB FIB 切片截面分析、FESEM 检查、EDS 微区元素分析。


相关资质

CNAS


5G大规模集成电路芯片失效分析CNAS认证服务背景

随着国家在5G通信领域的快速发展,我国5G通信技术的自主化脚步也越走越快,集成电路开始向着芯片设计研发的方向发展,芯片结构和制造工艺也日益复杂,如何快速准确地定位失效,找到失效根源变成了一个非常重要的课题和挑战。


我们的优势

广电计量拥有专家团队及先进的失效分析设备,可为客户提供完整的失效分析检测服务,帮助制造商快速准确地定位失效,找到失效根源,助力5G通信快速稳步发展。同时,可针对客户的研发需求,提供不同应⽤下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务。如配合客户开展NPI阶段验证,在量产阶段(MP)协助客户完成批次性失效分析。



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