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TEM介绍及其在半导体失效分析中的应用

简要描述:

近年来,随着半导体行业飞速发展,相关产品关键结构尺寸的进一步微纳米化,透射电镜逐渐开始作为半导体失效分析的有力工具。为了让用户对透射电镜相关内容有进一步的了解,此次公开课特意邀请英国曼彻斯特大学材料学博士、广电计量半导体技术副经理刘辰开展主题为《透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用》线上公开课。(TEM介绍及其在半导体失效分析中的应用)

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更新日期:2023-03-20

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TEM介绍及其在半导体失效分析中的应用
品牌广电计量课程形式线上直播
课程时间2023-3-30 上午9:30讲师英国曼彻斯特大学材料学博士 刘辰
课程价格免费

        透射电子显微镜(TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品,收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。

        透射电镜具有分辨率高、可与能谱仪等其他技术联用的优点,在物理、化学、生物学和材料学等多个领域有着广泛的应用。近年来,随着半导体行业飞速发展,相关产品关键结构尺寸的进一步微纳米化,透射电镜逐渐开始作为半导体失效分析的有力工具。


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4nm制程芯片TEM成像图


        为了让用户对透射电镜相关内容有进一步的了解,此次公开课特意邀请英国曼彻斯特大学材料学博士、广电计量半导体技术副经理刘辰开展主题为《透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用》线上公开课。届时,报名用户不仅能免费参与课程,听课期间还有专业的技术专家团队为大家进行现场答疑。

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活动介绍

        【主题透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用

        【时间】时间3月30日上午9:30-11:00

        【讲师刘辰

            ● 英国曼彻斯特大学材料学博士

            ● 广电计量MA技术线负责人

            ● 近十年材料分析和电镜实操经验


        此次公开课不仅作为一场公益课程,更对于报名并成功听课的客户提供优惠检测服务方案。


           ● 优惠期间,可享受优先检测服务

           ● 优惠期间,可享受AEC-Q培训课程八折优惠

          【优惠期:2023.3.30-2023.4.30】

常见问题

        Q:如何确定已报名成功?

        A:扫码报名后界面会提示“报名成功"。其次,如您已经关注广电计量公众号,将会推送报名成功信息。

        Q:公开课开始前是否有信息提示?

        A:只要您关注公众号并成功报名,在课程前5-10分会提醒您听课。

        Q:公开课结束后,课程是否可回放?

        A:是的。

请联系“在线客服"获取报名链接




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