近年来，随着半导体行业飞速发展，相关产品关键结构尺寸的进一步微纳米化，透射电镜逐渐开始作为半导体失效分析的有力工具。为了让用户对透射电镜相关内容有进一步的了解，此次公开课特意邀请英国曼彻斯特大学材料学博士、广电计量半导体技术副经理刘辰开展主题为《透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用》线上公开课。（TEM介绍及其在半导体失效分析中的应用）
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更新日期：2023-03-20
价格：
| 品牌 | 广电计量 | 课程形式 | 线上直播 |
|---|---|---|---|
| 课程时间 | 2023-3-30 上午9:30 | 讲师 | 英国曼彻斯特大学材料学博士 刘辰 |
| 课程价格 | 免费 |
透射电子显微镜（TEM）于1932年左右发明，是一种以波长极短的电子束作为电子光源，利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品，收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。
透射电镜具有分辨率高、可与能谱仪等其他技术联用的优点，在物理、化学、生物学和材料学等多个领域有着广泛的应用。近年来，随着半导体行业飞速发展，相关产品关键结构尺寸的进一步微纳米化，透射电镜逐渐开始作为半导体失效分析的有力工具。
4nm制程芯片TEM成像图
为了让用户对透射电镜相关内容有进一步的了解，此次公开课特意邀请英国曼彻斯特大学材料学博士、广电计量半导体技术副经理刘辰开展主题为《透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用》线上公开课。届时，报名用户不仅能免费参与课程，听课期间还有专业的技术专家团队为大家进行现场答疑。
【主题】透射电镜原理介绍及其在半导体失效分析中的应用
【时间】时间3月30日上午9:30-11:00
【讲师】刘辰
● 英国曼彻斯特大学材料学博士
● 广电计量MA技术线负责人
● 近十年材料分析和电镜实操经验
此次公开课不仅作为一场公益课程，更对于报名并成功听课的客户提供优惠检测服务方案。
● 优惠期间，可享受优先检测服务
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【优惠期：2023.3.30-2023.4.30】
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